Secondary Ion Mass Spectrometry Sims II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (Sims II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
Benninghoven, A. (EDT); Evans, C. A., Jr. (EDT); Powell, R. A. (EDT); Shimizu, R. (EDT); Storms, H. A. (EDT)
ISBN 10: 3642618731 ISBN 13: 9783642618734
Verlag: Springer, 2011
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Inhaltsangabe:
I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.
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Bibliografische Details
Titel: Secondary Ion Mass Spectrometry Sims II : ...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2011
Einband: Softcover
Zustand: New