Semiconductor Material and Device Characterization. Dieser Artikel ist nicht verfügbar.
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Sprache: Englisch
Verlag: Wiley-Interscience, 1998
- Hardcover
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Bestandsnummer des Verkäufers MINV.0471241393.G
- Titel
- Semiconductor Material and Device Characterization
- Autor
- Schroder, Dieter K.
- Verlag
- Wiley-Interscience
- Veröffentlichungsjahr
- 1998
- Zustand
- good
- Einband
- Hardcover
- Sprache
- Englisch
- ISBN-10
- 0471241393
- ISBN-13
- 9780471241393
- Ausgabe
- 2. Auflage
Über die Autorin bzw. den Autor
DIETER K. SCHRODER is Professor in the Department of Electrical Engineering at Arizona State University. A recipient of the ASU College of Engineering Teaching Excellence Award, he is author of Advanced MOS Devices.
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