Sequential Logic Testing and Verification

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Okt 2012, 2012

1461366224 / 9781461366225

Serie: Buch 207 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In order to design and build computers that achieve and sustain high performance, it is essential that reliability issues be considered care fully. The problem has several aspects. Certainly, considering reliability implies that an engineer must be able to analyze how design decisions affect the incidence of failure. For instance, in order design reliable inte gritted circuits, it is necessary to analyze how decisions regarding design rules affect the yield, i.e., the percentage of functional chips obtained by the manufacturing process. Of equal importance in producing reliable computers is the detection of failures in its Very Large Scale Integrated (VLSI) circuit components, caused by errors in the design specification, implementation, or manufacturing processes. Design verification involves the checking of the specification of a design for correctness prior to carrying out an implementation. Implementation verification ensures that the manual design or automatic synthesis process is correct, i.e., the mask-level description correctly implements the specification. Manufacture test involves the checking of the complex fabrication process for correctness, i.e., ensuring that there are no manufacturing defects in the integrated circuit. It should be noted that all the above verification mechanisms deal not only with verifying the functionality of the integrated circuit but also its performance. 240 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461366225

Titel
Sequential Logic Testing and Verification
Autor
Abhijit Ghosh
Verlag
Springer, Springer Okt 2012
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461366224
ISBN-13
9781461366225
Artikelgewicht
371 Gramm
Abmessungen
235x155x14 mm
Serie
Buch 207 von 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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