Simultaneous Switching Noise of CMOS Devices and Systems

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Feb 2014, 2014

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This monograph presents our recent research on Simultaneous Switching Noise (SSN) and related issues for CMOS based systems. Although some SSN related work was previously reported in the literature, it were mainly for Emitter Coupled Logic (ECL) gates using Bipolar Junction Transistors (BJTs). This present work covers in-depth analysis on estimating SSN and its impact for CMOS based devices and systems. At present semiconductor industries are moving towards scaled CMOS devices and reduced supply voltage. SSN together with coupled noise may limit the packing density, and thereby the frequency of operation of packaged systems. Our goal is to provide efficient and yet reliable methodologies and algorithms to estimate the overall noise containment in single chip and multi-chip package assemblies. We hope that the techniques and results described in this book will be useful as guides for design, package, and system engineers and academia working in this area. Through this monograph, we hope that we have shown the necessity of interactions that are essential between chip design, system design and package design engineers to design and manufacture optimal packaged systems. Work reported in this monograph was partially supported by the grant from Semiconductor Research Corporation (SRC Contract No. 92-MP-086). 232 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461364061

Titel
Simultaneous Switching Noise of CMOS Devices and Systems
Autor
John L. Prince
Verlag
Springer US Feb 2014
Veröffentlichungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
146136406X
ISBN-13
9781461364061
Artikelgewicht
359 Gramm
Abmessungen
235x155x13 mm

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