Single-Event Effects, from Space to Accelerator Environments

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Berlin, CERN, Springer, 2025

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book describes the fundamental concepts underlying radiation-induced failure mechanisms in electronic components operating in harsh environments, such as in space missions or in particle accelerators. In addition to providing an extensive overview of the dynamics and composition of different radiation environments, the authors discuss the failure mechanisms, known as single-event effects (SEEs), and dedicated failure modeling and prediction methodologies. Additionally, novel radiation-hardening-by-design (RHBD) techniques at physical layout and circuit levels are described.Readers who are newcomers to this field will learn the fundamental concepts of particle interaction physics and electronics hardening design, starting from the composition and dynamics of radiation environments and their effects on electronics, to the qualification and hardening of components. Experienced readers will enjoy the comprehensive discussion of the state-of-the-art in modeling, simulation, and analysis of radiation effects developed in the recent years, especially the outcome of the recent European project, RADSAGA.Describes both the fundamental concepts underlying radiation effects in electronics and state-of-the-art hardening methodologiesAddresses failure mechanisms, known as single-event effects (SEEs), and dedicated failure modeling and prediction methodologiesReveals novel radiation-hardening-by-design (RHBD) techniques at physical layout and circuit levelsOffers readers the first book in which particle accelerator applications will be extensively included in the radiation effects contextThis is an open access book. 141 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783031717253

Titel
Single-Event Effects, from Space to Accelerator Environments
Autor
Ygor Quadros de Aguiar
Verlag
Springer, Berlin, CERN, Springer
Erscheinungsjahr
2025
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3031717252
ISBN-13
9783031717253
Abmessungen
235x155x35 mm

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