Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

Sprache: Englisch

Verlag: Berlin Springer International Publishing Springer Jun 2018, 2018

3319808486 / 9783319808482

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time. 105 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783319808482

Titel
Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Autor
Selahattin Sayil
Verlag
Berlin Springer International Publishing Springer Jun 2018
Erscheinungsjahr
2018
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319808486
ISBN-13
9783319808482
Artikelgewicht
197 Gramm
Abmessungen
235x155x6 mm

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