Soft Errors
Jean-Luc Autran
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In den Warenkorb legenThis item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Soft errors are a multifaceted issue at the crossroads of applied physics and engineering sciences. Soft errors are by nature multiscale and multiphysics problems that combine not only nuclear and semiconductor physics, material sciences, circuit design, and chip architecture and operation, but also cosmic-ray physics, natural radioactivity issues, particle detection, and related instrumentation.Soft Errors: From Particles to Circuits addresses the problem of soft errors in digital integrated circuits subjected to the terrestrial natural radiation environment-one of the most important primary limits for modern digital electronic reliability. Covering the fundamentals of soft errors as well as engineering considerations and technological aspects, this robust text:Discusses the basics of the natural radiation environment, particle interactions with matter, and soft-error mechanismsDetails instrumentation developments in the fields of environment characterization, particle detection, and real-time and accelerated testsDescribes the latest computational developments, modeling, and simulation strategies for the soft error-rate estimation in digital circuitsExplores trends for future technological nodes and emerging devicesSoft Errors: From Particles to Circuits presents the state of the art of this complex subject, providing comprehensive knowledge of the complete chain of the physics of soft errors. The book makes an ideal text for introductory graduate-level courses, offers academic researchers a specialized overview, and serves as a practical guide for semiconductor industry engineers or application engineers. 439 pp. Englisch.
Bestandsnummer des Verkäufers 9781466590830
Soft errors are a multifaceted issue at the crossroads of applied physics and engineering sciences. Soft errors are by nature multiscale and multiphysics problems that combine not only nuclear and semiconductor physics, material sciences, circuit design, and chip architecture and operation, but also cosmic-ray physics, natural radioactivity issues, particle detection, and related instrumentation.
Soft Errors: From Particles to Circuits addresses the problem of soft errors in digital integrated circuits subjected to the terrestrial natural radiation environment―one of the most important primary limits for modern digital electronic reliability. Covering the fundamentals of soft errors as well as engineering considerations and technological aspects, this robust text:
Soft Errors: From Particles to Circuits presents the state of the art of this complex subject, providing comprehensive knowledge of the complete chain of the physics of soft errors. The book makes an ideal text for introductory graduate-level courses, offers academic researchers a specialized overview, and serves as a practical guide for semiconductor industry engineers or application engineers.
Jean-Luc Autran is distinguished professor of physics and electrical engineering at Aix-Marseille University and honorary member of the University Institute of France (IUF). He is also deputy director of the Institute for Materials, Microelectronics, and Nanosciences of Provence (IM2NP, UMR CNRS 7334) and the principal investigator of the Altitude Single-event effects Test European Platform (ASTEP). He is the author or coauthor of more than 300 papers published in international journals and conferences, a senior member of the Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), and a fellow of the Société de l’Electricité, de l’Electronique et des Technologies de l’Information et de la Communication (SEE).
Daniela Munteanu is director of research at the National Center for Scientific Research (CNRS). She is a fellow researcher at the Institute for Materials, Microelectronics, and Nanoscience of Provence (IM2NP, UMR CNRS 7334) and has 15 years of experience in characterization, modeling, and simulation of semiconductor devices. Her current research interests include emerging complementary-metal-oxide-semiconductor (CMOS) devices, compact modeling, numerical simulation in the domains of nanoelectronics, and radiation effects on components and circuits. She is also the author or coauthor of more than 200 papers published in international journals and conferences, and has supervised 12 Ph.D theses.
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Allgemeine Geschäftsbedingungen mit Kundeninformationen
Inhaltsverzeichnis
Geltungsbereich
Vertragsschluss
Widerrufsrecht
Preise und Zahlungsbedingungen
Liefer- und Versandbedingungen
Eigentumsvorbehalt
Mängelhaftung
Anwendbares Recht
Gerichtsstand
Alternative Streitbeilegung
Widerrufsbelehrung & Widerrufsformular
Verbrauchern steht ein Widerrufsrecht nach folgender Maßgabe zu, wobei Verbraucher jede natürliche Person ist, die ein Rechtsgeschäft zu Zwecken abschließt, die überwiegend weder ihrer gewerblichen noch ihrer selbständigen beruflichen Tätigkeit zugerechnet werden können:
A. Widerrufsbelehrung
Widerrufsrecht
Sie haben das Recht, binnen vierzehn Tagen ohne Angabe von Gründen diesen Vertrag zu widerrufen.
Die Widerrufsfrist beträgt vierzehn Tage ab dem Tag, an dem Sie oder ein von Ihnen benannter Dritter, der nicht der Beförderer ist, die letzte Ware in Besitz genommen haben bzw. hat.
Um Ihr Widerrufsrecht auszuüben, müssen Sie uns (BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K., De-Gasperi-Str. 8, 51469 Bergisch Gladbach, Deutschland, Tel.: +49(0)22028659300, Fax: +49(0)22028659301, E-Mail: info@buchweltweit.de) mittels einer eindeutigen Erklärung (z. B. ein mit der Post versandter Brief, Telefax oder E-Mail) über Ihren Entschluss, diesen Vertrag zu widerrufen, informieren. Sie können dafür das beigefügte Muster-Widerrufsformular verwenden, das jedoch nicht vorgeschrieben ist.
Zur Wahrung der Widerrufsfrist reicht es aus, dass Sie die Mitteilung über die Ausübung des Widerrufsrechts vor Ablauf der Widerrufsfrist absenden.
Folgen des Widerrufs
Wenn Sie diesen Vertrag widerrufen, haben wir Ihnen alle Zahlungen, die wir von Ihnen erhalten haben, einschließlich der Lieferkosten (mit Ausnahme der zusätzlichen Kosten, die sich daraus ergeben, dass Sie eine andere Art der Lieferung als die von uns angebotene, günstigste Standardlieferung gewählt haben), unverzüglich und spätestens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag zurückzuzahlen, an dem die Mitteilung über Ihren Widerruf dieses Vertrags bei uns eingegangen ist. Für diese Rückzahlung verwenden wir dasselbe Zahlungsmittel, das Sie bei der ursprünglichen Transaktion eingesetzt haben, es sei denn, mit Ihnen wurde ausdrücklich etwas anderes vereinbart; in keinem Fall werden Ihnen wegen dieser Rückzahlung Entgelte berechnet. Wir können die Rückzahlung verweigern, bis wir die Waren wieder zurückerhalten haben oder bis Sie den Nachweis erbracht haben, dass Sie die Waren zurückgesandt haben, je nachdem, welches der frühere Zeitpunkt ist.
Sie haben die Waren unverzüglich und in jedem Fall spätestens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag, an dem Sie uns über den Widerruf dieses Vertrags unterrichten, an uns zurückzusenden oder zu übergeben. Die Frist ist gewahrt, wenn Sie die Waren vor Ablauf der Frist von vierzehn Tagen absenden.
Sie tragen die unmittelbaren Kosten der Rücksendung der Waren.
Sie müssen für einen etwaigen Wertverlust der Waren nur aufkommen, wenn dieser Wertverlust auf einen zur Prüfung der Beschaffenheit, Eigenschaften und Funktionsweise der Waren nicht notwendigen Umgang mit ihnen zurückzuführen ist.
Ausschluss bzw. vorzeitiges Erlöschen des Widerrufsrechts
Das Widerrufsrecht erlischt vorzeitig bei Verträgen zur Lieferung von Ton- oder Videoaufnahmen oder Computersoftware in einer versiegelten Packung, wenn die Versiegelung nach der Lieferung entfernt wurde.
B. Widerrufsformular
Wenn Sie den Vertrag widerrufen wollen, dann füllen Sie bitte dieses Formular aus und senden es zurück.
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BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K.
De-Gasperi-Str. 8
51469 Bergisch Gladbach
Deutschland
Fax: +49(0)22028659301
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