Soft X-Ray Spectromicroscopy: Materials Characterization on a Microscale

Verlag: Lawrence Berkeley National Laboratory, 1997

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Unmarked text. Back cover flap inside contains various loose papers that summarize the spectromicroscopy facilities of the Advanced Light Source (ALS) at the Lawrence Berkeley National Laboratory. Book offers an overview of synchrotron radiation, Spectroscopy and Spectromicroscopy at ALS. Bibliography. 46+pp.

Bestandsnummer des Verkäufers 26602

Bibliografische Details

Titel
Soft X-Ray Spectromicroscopy: Materials Characterization on a Microscale
Autor
Robinson, Arthur L.
Verlag
Lawrence Berkeley National Laboratory
Erscheinungsjahr
1997
Zustand
Very Good
Einband
Paperback
Verkäuferkataloge
Science

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