Standard Reference Materials : Preparation and certification of SRM-2530, ellipsometric parameters and and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon 1988 Volume NBS Special Publication 260-109 [LeatherBound]

Candela, G. A.; Chandler-Horowitz, D.; Marchiando, J. F.; Novotny, D. B.; Belzer, B. J.; Croarkin, M. C.

Erscheinungsdatum: 2025
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