Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Biblioscholar, 2012

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Titel
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Autor
Ness, Stanley J
Verlag
Biblioscholar
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
New
Einband
Softcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
128686237X
ISBN-13
9781286862377

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