Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings

Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)

ISBN 10: 3642341659 ISBN 13: 9783642341656
Verlag: Springer, 2012
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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