Studies and Characterization of ZnS Thin Films

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Jun 2017, 2017

3330062444 / 9783330062443

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The II-VI compound semiconductors are of great importance due to their application in various electro-optic devices. Thin films of ZnS find many more applications in the area of opto electronic device fabrication like UV light emitting diodes, blue light emitting diodes, emissive flat screens, electroluminescent devices and antireflection coating in solar cell technology. Several methods have been used to prepare ZnS thin films. We have deposited ZnS films using chemical bath deposition method using sodium hydroxide as a complexing agent. The structural and morphological characteristics of films have been investigated by X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscope. XRD shows deposited film was polycrystalline nature with cubic structure. The grain size is estimated to be in the range of 35-70 nm. The crystallinity of the ZnS film was analysed by HRTEM with the help of the electron diffraction pattern. The films show good optical properties with high transmittance in the visible region and the band gap value were found 3.3 eV ¿ 2.1 eV. ZnS films can be used as buffer layers on CdTe solar cells. 60 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783330062443

Titel
Studies and Characterization of ZnS Thin Films
Autor
Arunkumar Alagesan
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Jun 2017
Erscheinungsjahr
2017
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3330062444
ISBN-13
9783330062443
Artikelgewicht
107 Gramm
Abmessungen
220x150x4 mm

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