Surface Infrared and Raman Spectroscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Mai 1995, 1995

0306449633 / 9780306449635

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -are intended to fill the gap between a manufacturer's handbook, and review articles that highlight the latest scientific developments. A fourth volume will deal with techniques for specimen handling, beam artifacts, and depth profiling. It will provide a compilation of methods that have proven useful for specimen handling and treatment, and it will also address the common artifacts and problems associated with the bombardment of solid sur faces by photons, electrons, and ions. A description will be given of methods for depth profiling. Surface characterization measurements are being used increasingly in di verse areas of science and technology. We hope that this series will be useful in ensuring that these measurements can be made as efficiently and reliably as possible. Comments on the series are welcomed, as are suggestions for volumes on additional topics. C. J. Powell Gaithersburg, Maryland A. W. Czandema Golden, Colorado D. M. Hercules Pittsburgh, Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick, New Jersey J. T. Yates, Jr. 284 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9780306449635

Titel
Surface Infrared and Raman Spectroscopy
Autor
W. Suëtaka
Verlag
Springer US Mai 1995
Erscheinungsjahr
1995
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0306449633
ISBN-13
9780306449635
Artikelgewicht
594 Gramm
Abmessungen
241x160x20 mm

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