Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems

Sprache: Englisch

Verlag: John Wiley and Sons Inc, US, 2015

1118479297 / 9781118479292

Anbieter: Rarewaves USA, HEBRON, KY, USARarewaves USA

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 10. Juni 2025

Hardcover

Zustand: Neu

EUR 200,17

 Versand gratis 
Versand innerhalb von USA

Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

In den Warenkorb
30 Tage kostenlose Rückgabe

Artikelbeschreibung des Verkäufers

This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions. Readers will learn how to make numerical models from physical insights, to determine the kind of mathematical approaches that should be implemented to analyze radiation effects. A wide variety of prediction, detection, characterization and mitigation techniques against soft-errors are reviewed and discussed. The author shows how to model sophisticated radiation effects in condensed matter in order to quantify and control them, and explains how electronic systems including servers and routers are shut down due to environmental radiation.  Provides an understanding of how electronic systems are shut down due to environmental radiation by constructing physical models and numerical algorithmsCovers both terrestrial and avionic-level conditionsLogically presented with each chapter explaining the background physics to the topic followed by various modelling techniques, and chapter summaryWritten by a widely-recognized authority in soft-errors in electronic devicesCode samples available for download from the Companion Website This book is targeted at researchers and graduate students in nuclear and space radiation, semiconductor physics and electron devices, as well as other areas of applied physics modelling. Researchers and students interested in how a variety of physical phenomena can be modelled and numerically treated will also find this book to present helpful methods.…

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9781118479292

Titel
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Autor
Eishi H. Ibe
Verlag
John Wiley and Sons Inc, US
Erscheinungsjahr
2015
Zustand
New
Einband
Hardback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1118479297
ISBN-13
9781118479292
Artikelgewicht
599 Gramm

Rarewaves USA

HEBRON, KY, USA

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 10. Juni 2025

Versandkosten innerhalb von USA

Artikel13 bis 14 Werktage13 bis 16 Werktage
Erster ArtikelEUR 0,00EUR 0,00
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

Rarewaves USA

10100 West Sample Road, Ste 101
Coral Springs, FL USA 33065