Testability Concepts for Digital ICs

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Nov 1995, 1995

0792396588 / 9780792396581

Serie: Buch 1 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models. 228 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9780792396581

Titel
Testability Concepts for Digital ICs
Autor
F. P. M. Beenker
Verlag
Springer US Nov 1995
Erscheinungsjahr
1995
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792396588
ISBN-13
9780792396581
Artikelgewicht
512 Gramm
Abmessungen
241x160x17 mm
Serie
Buch 1 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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