Testability Concepts for Digital ICs (Hardcover)

Sprache: Englisch

Verlag: Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, 1995

0792396588 / 9780792396581

Serie: Buch 1 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Hardcover. This volume considers testability aspects for digital ICs. The strategy taken is to integrate the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, to give a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets. Macro Test, a design-for-testability approach, provides a manageable test-programme route. Using the Macro Test approach, one can explore alternative solutions to satisfy pre-defined levels of performance (such as defect detection, defect location, test application) within a pre-defined cost budget and time scale. This book presents a tried and proven method of using a Macro approach to testing complex ICs and is intended for all test engineers, IC designers and managers concerned with producing high quality ICs. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9780792396581

Titel
Testability Concepts for Digital ICs (Hardcover)
Autor
F.P.M. Beenker
Verlag
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht
Erscheinungsjahr
1995
Zustand
new
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792396588
ISBN-13
9780792396581
Serie
Buch 1 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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