Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach

Sprache: Englisch

Verlag: Humana, 2012

1461360048 / 9781461360049

Serie: Buch 1 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461360049

Titel
Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach
Autor
F. P. M. Beenker
Verlag
Humana
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461360048
ISBN-13
9781461360049
Artikelgewicht
353 Gramm
Abmessungen
235x155x13 mm
Serie
Buch 1 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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