Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)

Buch 1 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Beenker, F.P.M.; Bennetts, R.G.; Thijssen, A.P.

ISBN 10: 0792396588 ISBN 13: 9780792396581
Verlag: Springer, 1995
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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