Testing Embedded System

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2019, 2019

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The embedded systems world is a fast growing industry. The engineers who built the products perform the testing because they understood best how things were supposed to work. The embedded industry is changing fast and systems have become larger, more complex, and more integrated. Embedded systems have to rely on high quality hardware as well as high quality software. Therefore, both hardware and software testing are essential parts of the test approach for an embedded system. Software now makes up the larger part of the system, often replacing hardware. Systems that used to work in isolation are linked to provide integrated functionality. This cannot be produced by one brilliant individual anymore, but has to be an organized team effort. Similarly, the process of testing has become larger, more complex, and harder to control. It has led to a growing need for a method that helps to get the complex testing process under control. Testing is more than just exercising the system and checking if it behaves correctly. It also involves the planning of activities, designing test cases, managing the test infrastructure, setting up an organization, dealing with politics and much more.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 260 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783330331174

Titel
Testing Embedded System
Autor
Neelesh Jain
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2019
Erscheinungsjahr
2019
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3330331178
ISBN-13
9783330331174
Artikelgewicht
405 Gramm
Abmessungen
220x150x17 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Deutschland

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