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Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2019

3330331178 / 9783330331174

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Artikelbeschreibung des Verkäufers

Testing Embedded System | Neelesh Jain | Taschenbuch | 260 S. | Englisch | 2019 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783330331174 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

Bestandsnummer des Verkäufers 117234928

Titel
Testing Embedded System
Autor
Neelesh Jain
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing
Erscheinungsjahr
2019
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3330331178
ISBN-13
9783330331174
Artikelgewicht
405 Gramm
Abmessungen
220 x 150 x 17 mm
Verkäuferkataloge
Bücher

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