Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated

Sprache: Englisch

Verlag: CRC Press, 2017

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.

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Titel
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated
Verlag
CRC Press
Veröffentlichungsjahr
2017
Zustand
New
Einband
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Sprache
Englisch
ISBN-10
1138075779
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9781138075771

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