Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns (Frontiers in Electronic Testing, 26)

Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Hamdioui, Said

ISBN 10: 1402077521 ISBN 13: 9781402077524
Verlag: Springer, 2004
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

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