Testing Static Random Access Memories

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Mrz 2004, 2004

1402077521 / 9781402077524

Serie: Buch 38 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing. 244 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781402077524

Titel
Testing Static Random Access Memories
Autor
Said Hamdioui
Verlag
Springer US Mrz 2004
Erscheinungsjahr
2004
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1402077521
ISBN-13
9781402077524
Artikelgewicht
535 Gramm
Abmessungen
241x160x18 mm
Serie
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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