Testing Static Random Access Memories

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer US Dez 2010, 2010

1441954309 / 9781441954305

Serie: Buch 38 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 23. Januar 2017

Softcover

Zustand: Neu

EUR 106,99

EUR 60,00 Versand 
Versand von Deutschland nach USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb
30 Tage kostenlose Rückgabe

Artikelbeschreibung des Verkäufers

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 244 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9781441954305

Titel
Testing Static Random Access Memories
Autor
Said Hamdioui
Verlag
Springer US, Springer US Dez 2010
Erscheinungsjahr
2010
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1441954309
ISBN-13
9781441954305
Artikelgewicht
376 Gramm
Abmessungen
235x155x14 mm
Serie
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic Testing

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Deutschland

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 23. Januar 2017

Versandkosten von Deutschland nach USA

Artikel60 bis 60 Werktage60 bis 60 Werktage
Erster ArtikelEUR 60,00EUR 75,00
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • PayPal
  • Vorauskasse

Shopbeschreibung

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Spezialisierung

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

buchversandmimpf2000

Deutschland