Thin Film and Depth Profile Analysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Vieweg Mär 2012, 2012

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technological applica tions and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the 'Physikzentrum' in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 224 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783642465017

Titel
Thin Film and Depth Profile Analysis
Autor
H. Oechsner
Verlag
Springer, Springer Vieweg Mär 2012
Veröffentlichungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3642465013
ISBN-13
9783642465017
Artikelgewicht
395 Gramm
Abmessungen
244x170x13 mm

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