Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Vieweg Aug 2004, 2004

3540223304 / 9783540223306

Serie: Buch 103 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Three-dimensional x-ray diffraction (3DXRD) microscopy is a novel experimental method for structural characterisation of polycrystalline materials. The position, morphology, phase, strain and crystallographic orientation of hundreds of grains or sub-grain embedded within mm-cm thick specimens can be determined simultaneously. Furthermore, the dynamics of the individual structural elements can be monitored during typical processes such as deformation or annealing.The book gives a comprehensive account of the methodology followed by a summary of selected applications. The method is presented from a mathematical/crystallographic point-of-view but with sufficient hands-on details to enable the reader to plan his or her own experiments. The scope of applications includes work in materials science and engineering, geophysics, geology, chemistry and pharmaceutical science.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 172 pp. Englisch. …

Titel
Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy
Autor
Henning Friis Poulsen
Verlag
Springer, Springer Vieweg Aug 2004
Erscheinungsjahr
2004
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540223304
ISBN-13
9783540223306
Artikelgewicht
430 Gramm
Abmessungen
241x160x15 mm
Serie
Buch 103 von 227: Springer Tracts in Modern Physics

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