Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry. Dieser Artikel ist nicht verfügbar.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2018
- Softcover
- Neu

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Zustand: Neu
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Artikelbeschreibung vom Verkäufer
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Bestandsnummer des Verkäufers 382288465
- Titel
- Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry
- Verlag
- Springer
- Veröffentlichungsjahr
- 2018
- Zustand
- New
- Einband
- Softcover
- Sprache
- Englisch
- ISBN-10
- 3319799886
- ISBN-13
- 9783319799889
Topics covered include sources, in-situ experiments, electron diffraction, Digital Micrograph, waves and holography, focal-series reconstruction and direct methods, STEM and tomography, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging, and spectrum imaging. The range and depth of material makes this companion volume essential reading for the budding microscopist and a key reference for practicing researchers using these and related techniques.
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Über die Autorin bzw. den Autor
David B. Williams is the Monte Ahuja Endowed Dean’s Chair, Executive Dean of The Professional Colleges and Dean of the College of Engineering at The Ohio State University.
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