ISBN 10: 3540738851 / ISBN 13: 9783540738855
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Inhaltsangabe: This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.

Klappentext: This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The third edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM. This edition is not substantially longer than the second, but all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. ``I can warmly recommend this book, which is attractively priced, as an excellent addition for any materials scientist or physicist who wants a good overview of current diffraction and imaging techniques.'' John Hutchison in Journal of Microscopy ``I can recommend it as a valuable resource for anyone involved in a higher-level course on materials characterization.'' Ray Egerton in Micron ``A wonderful book. A rare combination of depth, practical advice, and problems for every aspect of modern XRD, TEM, and EELS. No materials lab should be without it now that TEM/STEM has become such a crucial tool for nanoscience.'' John C. H. Spence, Arizona State University ``I give a lecture course here on Advanced Electron Microscopy and will certainly be recommending your book for my course. It is a superb book.?? Colin Humphreys, Cambridge University ``This text offers the most complete pedagogical treatment of scattering theory available in a single source for graduate instruction in contemporary materials characterization. Its integration of photons and electrons, beam lines and electron microscopes, theory and practice, assists students with diverse scientific and technical backgrounds to understand the essence of diffraction, spectrometry and imaging. Highly recommended.?? Ronald Gronsky, University of California, Berkeley

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Bibliografische Details

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1.

Brent Fultz, James Howe
Verlag: Springer (2009)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Brent Fultz; James Howe
Verlag: Springer (2009)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Brent Fultz
Verlag: Springer 2009-11-01 (2009)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Buchbeschreibung Springer 2009-11-01, 2009. Hardcover. Buchzustand: New. 3rd. 3540738851. Buchnummer des Verkäufers 687094

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Fultz, Brent, Howe, James
Verlag: Springer (2009)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Fultz, Brent, Howe, James
Verlag: Springer (2009)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Fultz, Brent, Howe, James
Verlag: Springer (2009)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Murray Media
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Fultz, Brent;Howe, James;Howe, James M.
Verlag: Secaucus, New Jersey, U.S.A.: Springer Verlag (2007)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Buchbeschreibung Secaucus, New Jersey, U.S.A.: Springer Verlag, 2007. Hardcover. Buchzustand: New. Ship out 1 business day,Brand new,US edition, Free tracking number usually 2-4 biz days delivery to worldwide Same shipping fee with US, Canada,Europe country, Australia, item will ship out from either LA or Asia,w. Buchnummer des Verkäufers ABE-5424090799

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Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor)
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009 (2008)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Buchbeschreibung Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008. Hardcover. Buchzustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009. Buchnummer des Verkäufers BN25943

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ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Buchservice Lars Lutzer
(Bad Segeberg, Deutschland)
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Buchbeschreibung Buchzustand: neuwertig. 3rd ed. 2008 - Rechnung mit MwSt - Versand aus Deutschland pages. Buchnummer des Verkäufers 6P-8EAW-J0BM

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10.

Brent Fultz, James Howe
Verlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH Co. KG, Germany (2007)
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
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Buchbeschreibung Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH Co. KG, Germany, 2007. Hardback. Buchzustand: New. 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing. 238 x 156 mm. Language: English . Brand New Book. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. Buchnummer des Verkäufers AAB9783540738855

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