Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer Series in Optical Sciences, Volume 36.

Reimer, Ludwig:

ISBN 10: 3540568492 / ISBN 13: 9783540568490

Verlag: Berlin, Springer, 1993

Beschreibung

545 p. Ehemaliges Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. Buch in akzeptablen Zustand mit mittlere Gebrauchsspuren. Buchblock Beschädigt! 9783540568490 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 930.

Bestandsnummer des Verkäufers 203702

Bibliografische Details

• Titel: Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer Series in Optical Sciences, Volume 36.
• Verlag: Berlin, Springer
• Erscheinungsjahr: 1993
• Sprache: Englisch
• ISBN-10: 3540568492
• ISBN-13: 9783540568490
• Einband: Softcover
• Auflage: 3. Auflage
• Verkäuferkataloge:
  • U Physik

Über diesen Titel

Inhaltsangabe

This stuy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of the particle-and wave-optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also analyzed are the kinematic and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure determination and the imaging of lattices and their defects. X-ray microanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. This third edition includes a brief discussion of Schottky emission guns, some clarification of minor details, and references to the recent literature.

Reseña del editor

Hier steht der Extremkurztext.