VLSI Design and Test for Systems Dependability

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Japan, 2018

4431565922 / 9784431565925

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems.The book consists of three parts. Part I, as a gener.

Bestandsnummer des Verkäufers 160317923

Titel
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Autor
Asai, Shojiro
Verlag
Springer Japan
Erscheinungsjahr
2018
Zustand
New
Einband
Gebunden
Sprache
Englisch
ISBN-10
4431565922
ISBN-13
9784431565925

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