VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers

Youngsoo Shin

ISBN 10: 331946096X ISBN 13: 9783319460963
Verlag: Springer International Publishing, 2016
Sprache: Englisch
Neu Zustand: Neu Hardcover

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