X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis

Chung, Deborah D; Detlaven, Patrick W; Arnold, H; Ghosh, Debastis

ISBN 10: 3527278427 ISBN 13: 9783527278428
Verlag: Wiley-VCH, 1993
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Sehr gut Hardcover

Verkauft von Buchpark, Trebbin, Deutschland

AbeBooks-Verkäufer seit 30. September 2021

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Gebraucht - Hardcover

Zustand: Gebraucht - Sehr gut

Preis:
EUR 52,24
EUR 105,00 Versand
Versand von Deutschland nach USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen