X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Vieweg Jan 2004, 2004

3540201793 / 9783540201793

Serie: Buch 99 von 227 - Springer Tracts in Modern Physics

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-raydiffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 216 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783540201793

Titel
X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Autor
Martin Schmidbauer
Verlag
Springer, Springer Vieweg Jan 2004
Erscheinungsjahr
2004
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540201793
ISBN-13
9783540201793
Artikelgewicht
494 Gramm
Abmessungen
241x160x17 mm
Serie
Buch 99 von 227: Springer Tracts in Modern Physics

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