Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford

Moore, Will, Maly, Wojciech

Verlag: CRC Press, 1988
ISBN 10: 085274398X / ISBN 13: 9780852743980
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Inhaltsangabe: Papers of the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, July 1987. Objectives include discussion of topics in VLSI and designing integrated circuits to yield targets. On yield loss mechanisms and defect tolerance, alternative prospects, catastrophic yield loss models, parametric yield l

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Bibliografische Details

Titel: Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI...
Verlag: CRC Press
Erscheinungsdatum: 1988
Zustand: very good

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1.

Will Moore
ISBN 10: 085274398X ISBN 13: 9780852743980
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Moore, Will
Verlag: Adam Hilger (1988)
ISBN 10: 085274398X ISBN 13: 9780852743980
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