EUR 14,32
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In den WarenkorbCloth. Zustand: Near Fine. 194 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text is free of markings. Book still in original shrink wrap.
Verlag: Goldaming : Springer London, 2005
Sprache: Englisch
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Erstausgabe
EUR 7,80
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Wie neu. 1. Ed. 250 p. Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 490.
EUR 104,11
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In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
EUR 108,21
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Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
EUR 127,81
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Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
EUR 133,92
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In den WarenkorbZustand: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . .
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
EUR 167,56
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In den WarenkorbZustand: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.