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Infrastructure Design for Sensor Networks : Scalable Infrastructure for Information Processing in Distributed Sensor Networks.
Verlag: Goldaming : Springer London, 2005
Sprache: Englisch
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
SonderangebotEUR 6,24
EUR 75,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Wie neu. 1. Ed. 250 p. Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 490.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 102,91
EUR 2,28 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,41
EUR 2,28 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,13
EUR 17,03 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 126,06
EUR 17,03 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . .
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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
