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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
XIV, 171 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Sprache: Englisch.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 52,90
EUR 3,44 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 57,40
EUR 13,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Advanced BDD Optimization (Universitext)
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Brand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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Robustness And Usability In Modern Design Flows
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Robustness And Usability In Modern Design Flows
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,00
EUR 11,34 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2015 edition. 171 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,10
EUR 3,44 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,10
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,63
EUR 2,28 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,44
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advanced BDD Optimization (Universitext)
Anbieter: Wonder Book, Frederick, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Good condition. A copy that has been read but remains intact. May contain markings such as bookplates, stamps, limited notes and highlighting, or a few light stains.
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 117,26
Kostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Sep 2016, 2016
ISBN 10: 3319356100 ISBN 13: 9783319356105
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 188 pp. Englisch.
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,14
EUR 13,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Verlag: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319356100 ISBN 13: 9783319356105
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Verlag: Springer International Publishing, 2014
ISBN 10: 3319093088 ISBN 13: 9783319093086
Sprache: Englisch
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Verlag: Springer International Publishing, 2014
ISBN 10: 3319093088 ISBN 13: 9783319093086
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Brand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Verlag: Springer Nature Switzerland, 2016
ISBN 10: 3319356100 ISBN 13: 9783319356105
Sprache: Englisch
Taschenbuch. Zustand: Neu. Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon | Görschwin Fey (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2016 | Springer Nature Switzerland | EAN 9783319356105 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 109,98
EUR 13,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 109,97
EUR 17,02 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 133,35
EUR 13,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 120,35
EUR 28,36 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. Ships from Multiple Locations. book.
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,58
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,58
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 162,67
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