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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2022
ISBN 10: 3031153448 ISBN 13: 9783031153440
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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