Verlag: World Scientific Publishing Comp, 2005
ISBN 10: 9812565256 ISBN 13: 9789812565259
Sprache: Englisch
Anbieter: suffolkbooks, Center moriches, NY, USA
hardcover. Zustand: Very Good. Fast Shipping - Safe and Secure 7 days a week!
Hardcover. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-01151 3540128417 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05750 3540116931 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
Karton. Zustand: Sehr gut. Zust: Gutes Exemplar. VIII, 311 S. Englisch 578g.
Hardcover. Zustand: Very Good. 1st Edition. 311 p; 117 Fig. [SPRINGER SERIES IN SOLID-STATE SCIENCES ; 47]. Buch.
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Verlag: Kluwer Academic Pub, Dordrecht/Boston/London, 1992
ISBN 10: 0792319613 ISBN 13: 9780792319610
Sprache: Englisch
Anbieter: The Dawn Treader Book Shop, Ann Arbor, MI, USA
Hardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. Fore-edge page block has been stamped in black ink. Label from library at tail of spine. Front paste down and first free end pages have been stamped in black ink. Pencil markings on title, copyright and contents pages. Label from library on back paste down page. Otherwise very good.
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Zustand: New. pp. 314.
Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02382 3540536000 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
Zustand: New. pp. 300.
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792319613 ISBN 13: 9780792319610
Sprache: Englisch
Anbieter: Salish Sea Books, Bellingham, WA, USA
Zustand: Good. Good+; Hardcover; Former library copy with standard library markings; Covers are still glossy; Library stamps to endpapers; Text pages clean & unmarked; Binding is excellent with a straight spine; This book will be shipped in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); 1.4 lbs; Yellow covers with title in brown lettering; 1992, Kluwer Academic Publishers; 332 pages; "Surface Properties of Layered Structures (Physics and Chemistry of Materials with Low-Dimensional Structures)," by Giorgio Benedek.
Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2005
ISBN 10: 9812565256 ISBN 13: 9789812565259
Sprache: Englisch
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USA
Zustand: New. pp. xv + 409, Maps.
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642757871 ISBN 13: 9783642757877
Sprache: Englisch
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2005
ISBN 10: 9812565256 ISBN 13: 9789812565259
Sprache: Englisch
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2005
ISBN 10: 9812565256 ISBN 13: 9789812565259
Sprache: Englisch
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Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Point and Extended Defects in Semiconductors | Giorgio Benedek | Taschenbuch | x | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781468457117 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Anbieter: BennettBooksLtd, San Diego, NV, USA
hardcover. Zustand: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
Verlag: Springer US, Springer New York, 2013
ISBN 10: 146845711X ISBN 13: 9781468457117
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The systematic study of defects in semiconductors began in the early fifties. FrQm that time on many questions about the defect structure and properties have been an swered, but many others are still a matter of investigation and discussion. Moreover, during these years new problems arose in connection with the identification and char acterization of defects, their role in determining transport and optical properties of semiconductor materials and devices, as well as from the technology of the ever in creasing scale of integration. This book presents to the reader a view into both basic concepts of defect physics and recent developments of high resolution experimental techniques. The book does not aim at an exhaustive presentation of modern defect physics; rather it gathers a number of topics which represent the present-time research in this field. The volume collects the contributions to the Advanced Research Workshop 'Point, Extended and Surface Defects in Semiconductors' held at the Ettore Majo rana Centre at Erice (Italy) from 2 to 7 November 1988, in the framework of the International School of Materials Science and Technology. The workshop has brought together scientists from thirteen countries. Most participants are currently working on defect problems in either silicon submicron technology or in quantum wells and superlattices, where point defects, dislocations, interfaces and surfaces are closely packed together.
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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