Gesamtpreis (1 Artikel Artikel):
Versandziel:
harris rusty (39 Ergebnisse)
Direkt zu den wichtigsten Suchergebnissen
Suchfilter
Produktart
- Alle Product Types
- Bücher (39)
- Magazine & Zeitschriften (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Comics (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Noten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Kunst, Grafik & Poster (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Fotografien (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Karten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Manuskripte & Papierantiquitäten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Zustand Mehr dazu
- Neu (36)
- Wie Neu, Sehr Gut oder Gut Bis Sehr Gut (3)
- Gut oder Befriedigend (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Ausreichend oder Schlecht (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Wie beschrieben (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Weitere Eigenschaften
- Erstausgabe (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Signiert (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Schutzumschlag (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Angebotsfoto (8)
- Keine Print-on-Demand Angebote (20)
Sprache (1)
Gratisversand
Land des Verkäufers
Verkäuferbewertung
-
Gone Fishing: A Novel of Old Florida and Her Tragic Seas
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 13,82
EUR 13,85 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
-
CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
-
CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 35,35
EUR 13,85 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
-
Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press 2014-06-05, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 33,07
EUR 17,91 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: New.
-
Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 42,04
EUR 10,50 Versand
Versand von Irland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
-
Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Zustand: New. pp. 194.
-
Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
-
Gone Fishing A Novel of Old Florida and Her Tragic Seas
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
PAP. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Gone Fishing A Novel of Old Florida and Her Tragic Seas
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 12,79
EUR 4,81 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Gone Fishing
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 13,69
EUR 7,51 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 168 2:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on Creme w/Gloss Lam.
-
CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
-
Zustand: New. Print on Demand pp. 168.
-
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,65
EUR 2,27 Versand
Versand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
-
CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
-
CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 119,35
EUR 13,85 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
-
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 119,34
EUR 17,34 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
-
Gone Fishing
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 168.
-
Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 135,36
EUR 10,50 Versand
Versand von Irland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . .
-
Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Zustand: New. pp. viii + 179.
-
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 162,74
EUR 11,56 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 194 pages. 9.13x6.30x0.79 inches. In Stock.
-
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,37
EUR 17,34 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
-
Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 169,34
EUR 9,04 Versand
Versand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 148,85
EUR 28,90 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. Like New. book.
-
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 180,78
EUR 2,27 Versand
Versand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
-
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
-
CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: new. Paperback. To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
-
CMOS Gate-Stack Scaling â" Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 34,81
EUR 11,56 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 194 pages. 9.02x5.98x0.39 inches. In Stock. This item is printed on demand.
-
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 39,86
EUR 15,55 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbPaperback / softback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
-
Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 49,23
EUR 7,51 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 194.
-
Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 194.
