Kamp leo (34 Ergebnisse)
Longitudinal Data Analysis: Designs, Models and Methods
Bijleveld, Catrien C. J. H.; Van Der Kamp, Leo J. Th; Mooijaart, Ab
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Longitudinal Data Analysis: Designs, Models and Methods
Bijleveld, Catrien C. J. H.; van der Kamp, Leo J Th; Mooijaart, Ab; van der Kloot, Willem; van der Leeden, Rien; Van Der Burg, Eeke
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Psychometrics for Educational Debates.
Kamp, Leo J. Th. van der, Willem F. Langerak and Dato N.M. Gruijter:
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Sprache: Englisch
Verlag: Boca Raton/London/New York, Chapman & Hall 2008 2007
Serie: Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences
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264 p. Hardcover (With multiple colour highlights throughout, otherwise in good condition.).
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press LLC 2007
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Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC 2007
Serie: Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences
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Hardcover. Zustand: Very Good. 1584889586 Very Good++; Hardcover; Close to new condition; Covers are still glossy with "straight" edge-corners; Unblemished textblock edges; The endpapers and all text pages are bright and unmarked; Binding is tight with a straight spine; This book will be stored and delivered in a sturdy cardboar…d box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); Blue covers with title in white lettering; 2007, Chapman and Hall/CRC; 280 pages; "Statistical Test Theory for the Behavioral Sciences (Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences)," by Dato N. M. de Gruijter & Leo J. Th. van der Kamp.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC 2019
Serie: Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC 2019
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Faux leather. Zustand: Gut. 320 Seiten Guter Zustand/ Good In englischer Sprache/ English. Ex-Library. ha1047430 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 650.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC 2019
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Longitudinal Data Analysis: Designs, Models and Methods Bijleveld, Catrien; van der Kamp, Leo; Mooijaart, Ab; van der Kloot, Willem; van der Leeden, Rien and Van Der Burg, Eeke
Bijleveld, Catrien; van der Kamp, Leo; Mooijaart, Ab; van der Kloot, Willem; van der Leeden, Rien and Van Der Burg, Eeke
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Hardcover 16x24. Zustand: Gut. 320 Seiten altersbedingt guter Zustand, angestoßen, Bibliotheksexemplar, 200525937 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 640.
Sprache: Englisch
Verlag: Boca Raton : Chapman & Hall/CRC 2008
Serie: Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences, Buch 34 von 40. Buch 34 von 40 - Chapman & Hall/CRC Statistics in the Social and Behavioral Sciences
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Zustand: Gut. Gebraucht - Gut * ex-library; excellent, clean condition, no markings in text * -This book provides both a broad overview and a critical survey of assorted testing theories and models used in psychology, education, and other behavioral science fields. It explores the relationships and differences between several th…eories-including classical test, generalizability, and item response-and their applications. The authors present recent developments in testing, such as computerized adaptive testing, and use real data from the areas of psychology and education. The text also includes exercises at the end of each chapter with solutions in an appendix.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman & Hall 2019
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Secured Transactions & Payment Systems: Problems and Answers
Clarke, Leo L. (Editor)/ Dolan, John F./ Gavin, Larry T./ Kamp, Allen R./ Macintosh, Kerry Lynn
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Longitudinal Data Analysis: Designs, Models and Methods
Bijleveld, Catrien C. J. H.; Van Der Kamp, Leo J Th; Mooijaart, Ab; Van Der Kloot, Willem; Van Der Leeden, Rien; Van Der Burg, Eeke
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Longitudinal Data Analysis: Designs, Models and Methods
Bijleveld, Catrien C. J. H., van der Kamp, Leo J Th, Mooijaa
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Longitudinal Data Analysis: Designs, Models and Methods
Bijleveld, Catrien C. J. H./ Vanderkamp, Leo J. th/ Kamp, Leo J. Th. Van Der
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