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Reliability, Yield, and Stress Burn-In : A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing and Software Development
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Anbieter: Gate City Books, GREENSBORO, NC, USA
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Anbieter: BennettBooksLtd, San Diego, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 428 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The international market is very competitive for high-tech manufacturers to day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: ¿ the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in dustry, ¿ a study of the relationship between reliability and yield, ¿ the progression toward miniaturization and higher reliability, and ¿ the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.
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Zustand: New. pp. 424.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 428.
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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 424.
