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Electronic Packaging Materials Science: Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 40: Symposium Held November 27-29, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 1985
ISBN 10: 0931837057 ISBN 13: 9780931837050
Anbieter: Star Canyon Books, Woodland, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Like New. Materials Research Society. 1985. Pittsburgh. Hardcover (issued without dust jacket). 8vo. As new copy ( a name in ink top right of front free end-paper). Heavily illustrated with photographs, charts, diagrams, tables, and graphs in black and white. Includes subject index and author index. 417 pages. Next day shipping guaranteed.
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Postmodernism & China
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Postmodernism & China
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Postmodernism & China
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Postmodernism & China
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Elements of Electromigration
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Electronic Packaging Materials Science VIII: Volume 390 (MRS Proceedings, 390).
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 1995
ISBN 10: 1558992936 ISBN 13: 9781558992931
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
284 p. Ex-Library Book in good condition. 9781558992931 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 590.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback / softback. Zustand: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Elements Of Electromigration: Electromigration In 3D Ic Technology
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 142 pages. 9.68x6.87x9.61 inches. In Stock.
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. Based on a graduate course at UCLA, this book describes reliability and failure of thin films. Num Pages: 412 pages, 186 b/w illus. 23 tables. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 23. Weight in Grams: 970. . 2010. hardcover. . . . .
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, GB, 2010
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. Thin films are widely used in the electronic device industry. As the trend for miniaturization of electronic devices moves into the nanoscale domain, the reliability of thin films becomes an increasing concern. Building on the author's previous book, Electronic Thin Film Science by Tu, Mayer and Feldman, and based on a graduate course at UCLA given by the author, this new book focuses on reliability science and the processing of thin films. Early chapters address fundamental topics in thin film processes and reliability, including deposition, surface energy and atomic diffusion, before moving onto systematically explain irreversible processes in interconnect and packaging technologies. Describing electromigration, thermomigration and stress migration, with a closing chapter dedicated to failure analysis, the reader will come away with a complete theoretical and practical understanding of electronic thin film reliability. Kept mathematically simple, with real-world examples, this book is ideal for graduate students, researchers and practitioners.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Kinetics in Nanoscale Materials
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Silicon and Silicide Nanowires: Applications, Fabrication, and Properties
Sprache: Englisch
Verlag: Pan Stanford Publishing Pte Ltd, 2013
ISBN 10: 9814303461 ISBN 13: 9789814303460
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 466 Seiten; 9789814303460.3 Gewicht in Gramm: 1.
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Electronic Thin-Film Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. Based on a graduate course at UCLA, this book describes reliability and failure of thin films. Num Pages: 412 pages, 186 b/w illus. 23 tables. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 23. Weight in Grams: 970. . 2010. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Kinetics in Nanoscale Materials (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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