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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Verlag: New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Sprache: Englisch
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 27,92
Währung umrechnenKostenlos für den Versand von Australien nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship toPOboxaddress.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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EUR 6,93
Währung umrechnenEUR 96,03 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 109,94
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 100,44
Währung umrechnenEUR 16,84 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,64
Währung umrechnenEUR 5,73 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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EUR 94,95
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In den WarenkorbZustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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EUR 94,95
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EUR 118,64
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Covers the latest research that has been carried on in the area of thermal and power management of integrated circuits with emphasis on performance and reliability of ICs at system and circuit levelNo book provides cohesive treatment of the materi.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 65,06
Währung umrechnenEUR 63,18 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,63
Währung umrechnenEUR 17,25 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 135,19
Währung umrechnenEUR 5,73 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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EUR 140,43
Währung umrechnenEUR 7,58 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 192.
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ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies
Verlag: S.l., Springer 2008 figures, 2008
Anbieter: Antiquarian Bookshop Klikspaan, Leiden, Niederlande
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 70,00
Währung umrechnenEUR 8,50 für den Versand von Niederlande nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorb1st ed. - With index. - Hardcover, as new.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,88
Währung umrechnenEUR 5,73 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,88
Währung umrechnenEUR 5,73 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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EUR 64,94
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 100,69
Währung umrechnenEUR 63,18 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 101,02
Währung umrechnenEUR 63,18 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 171,19
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 212 pp. Englisch.
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EUR 165,94
Währung umrechnenEUR 7,58 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 2nd Edition.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 173,50
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 170,73
Währung umrechnenEUR 5,73 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 170,73
Währung umrechnenEUR 5,73 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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EUR 155,07
Währung umrechnenEUR 25,25 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 172,76
Währung umrechnenEUR 10,18 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
