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Les systèmes mécatroniques embarqués: Tome 2, Analyse des causes de défaillances, modélisation, stimulation et optimisation
Sprache: Englisch
Verlag: Hermes Science Publishing Ltd, 2015
ISBN 10: 1784050598 ISBN 13: 9781784050597
Softcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2015. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 2015. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.2 ; analyse des causes de d?faillances, mod?lisation, simulation et optimisation
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Systemes Mecatroniques Embarques V2, Les
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.2 ; analyse des causes de d?faillances, mod?lisation, simulation et optimisation
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.1 ; analyse des causes de d?faillances, fiabilit? et contraintes
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Systemes Mecatroniques Embarques V1, Les
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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les syst?mes m?catroniques embarqu?s t.1 ; analyse des causes de d?faillances, fiabilit? et contraintes
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 1
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 1
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Predictive Reliability
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2020
ISBN 10: 1785481908 ISBN 13: 9781785481901
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems: Analysis of Failures, Predictive Reliability
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Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Predictive Reliability
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Predictive Reliability
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
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Embedded Mechatronic Systems 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems: Analysis of Failures, Predictive Reliability
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Embedded Mechatronic Systems : Analysis of Failures, Predictive Reliability
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, USA
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Hardcover. Zustand: new. Hardcover. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
