Singhee (50 Ergebnisse)
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Zustand: New. Über den AutorThe author of this work would love to set up an NGO to err . . . Save The Words. To donate, you need to adopt a word and promise to cherish it. The NGO will be called Grunt. Other than this the author would like to sta.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
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Sprache: Englisch
Verlag: Penguin Random House India Pvt. Ltd Jan 2015, 2015
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - 'Something smells fishy here and I don't mean Mr H's uneaten dinner.'Meet Pojo Pande, aspiring private eye prowling the corridors of Heathcote International with a ready ear for eavesdropping and a nose for intrigue. And he's got two sidekicks-Radha Rao, a senior and the latest in a long line… of Raos to skirt the school rules and Pops, a pesky junior who insists on being Pojo's protégé. Together, they face the toughest case of their career yet-the killing of Mr Heathcote, the beloved school cat. Join Pojo on his adventures in this hugely funny, unputdownable book as he gets to the bottom of the killing of Mr Heathcote.
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
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Paperback. Zustand: Brand New. 2009 edition. 210 pages. 9.25x6.10x0.48 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits | Amith Singhee (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400736870 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen…[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since…they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
- Hardcover
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Verlag: Springer, 2012
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Verlag: Springer, 2012
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design | Amith Singhee (u. a.) | Taschenbuch | Integrated Circuits and Systems | x | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461426721 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot…]com | Anbieter: preigu.
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Paperback. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
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Verlag: Springer US, Springer US, 2012
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variat…ions in the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0.
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Us, 2010
- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variations in… the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0.
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