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Reduction of Test Time During Design for Testability
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2021
ISBN 10: 6204731947 ISBN 13: 9786204731940
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Reducción del tiempo de prueba durante el diseño para la comprobabilidad
Sprache: Spanisch
Verlag: Ediciones Nuestro Conocimiento, 2022
ISBN 10: 6204420208 ISBN 13: 9786204420202
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Redução do tempo de teste durante a concepção para a Testabilidade
Sprache: Portugiesisch
Verlag: Edições Nosso Conhecimento, 2022
ISBN 10: 6204420151 ISBN 13: 9786204420158
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In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Da die VLSI-Technologie staendig auf kleinere Technologieknoten schrumpft, benoetigen wir eine effiziente Testtechnik. Zuverlaessigkeit und Testbarkeit sind die wichtigsten Parameter beim heutigen VLSI-Design. Die Verkuerzung der Testzeit ist eine grosse Herausf.
