Suthar haresh (7 Ergebnisse)
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Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Da die VLSI-Technologie staendig auf kleinere Technologieknoten schrumpft, benoetigen wir eine effiziente Testtechnik. Zuverlaessigkeit und Testbarkeit sind die wichtigsten Parameter beim heutigen VLSI-Design. Die Verkuerzung der Testzeit ist eine grosse Herausf.…
