Suykens johan (109 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC 2020-09-30, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Softcover
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Cellular Neural Networks, Multi-Scroll Chaos And Synchronization (World Scientific Series on Nonlinear Science)
Yalcin, Mustak E.; Suykens, Johan A. K.; Vandewalle, Joos P. L.
- Hardcover
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Zustand: New. pp. 525 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
- Hardcover
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Cellular Neural Networks, Multi-Scroll Chaos and Synchronization
Mu?s?tak E Yalc?in Joos P.L. Vandewalle Johan A.K. Suykens Mustak E. Yalcin
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2005
- Hardcover
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Cellular Neural Networks, Multi-Scroll Chaos and Synchronization
Yalc?in Mu?s?tak E Vandewalle Joos P.L. Suykens Johan A.K. Yalcin Mustak E.
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2005
- Hardcover
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CELLULAR NEURAL NETWORKS, MULTI-.(V50)
Yalçın, Katholieke Universiteit Leuven Belgium Müştak E; Suykens, Katholieke Universiteit Leuven Belgium Johan A K; Vandewalle, Joos P L
- Hardcover
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (Editor)/ Signoretto, Marco (Editor)/ Argyriou, Andreas (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman & Hall, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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CELLULAR NEURAL NETWORKS, MULTI-.(V50)
Yalçın, Katholieke Universiteit Leuven Belgium Müştak E; Suykens, Katholieke Universiteit Leuven Belgium Johan A K; Vandewalle, Joos P L
- Hardcover
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Verlag: Chapman and Hall/CRC 2014-11-14, 2014
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
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Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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