Suykens johan (107 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Cellular Neural Networks, Multi-Scroll Chaos And Synchronization (World Scientific Series on Nonlinear Science)
Yalcin, Mustak E.; Suykens, Johan A. K.; Vandewalle, Joos P. L.
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Zustand: New. pp. 525 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Least Squares Support Vector Machines
Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens,Tony Van Gestel,Jos De Brabanter,Bart De Moor,Joos Vandewalle
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (Editor)/ Signoretto, Marco (Editor)/ Argyriou, Andreas (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman & Hall, 2020
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Paperback. Zustand: Brand New. 525 pages. 9.25x6.14x1.18 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Buch 7 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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