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Testing and Diagnosis for Small-Delay Defects.
Verlag: New York, Springer New York., 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Sprache: Englisch
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 16,00
Währung umrechnenEUR 3,00 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbXVIII, 212 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Sprache: Englisch.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 111,14
Währung umrechnenEUR 5,81 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 120,87
Währung umrechnenEUR 17,51 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 128,16
Währung umrechnenEUR 17,34 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 134,26
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In den WarenkorbZustand: New.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 134,52
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 154,91
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 154,85
Währung umrechnenEUR 11,68 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,06
Währung umrechnenEUR 65,07 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 169,79
Währung umrechnenEUR 7,81 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 232.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 180,87
Währung umrechnenEUR 2,30 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,21
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EUR 97,80
Währung umrechnenEUR 98,91 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 180,38
Währung umrechnenEUR 29,19 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. book.
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EUR 89,99
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and.
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EUR 100,39
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 173,71
Währung umrechnenEUR 10,33 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 232.
