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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Zustand: New. pp. 402.
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Beginners Guide to Scanning Electron Microscopy
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Zustand: New.
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Taschenbuch. Zustand: Neu. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy | Anwar Ul-Hamid | Taschenbuch | xxii | Englisch | 2019 | Springer Nature Switzerland | EAN 9783030074982 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds¿including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academiäemphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 424 pp. Englisch.
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
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Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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A Beginners* Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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A Beginners\ Guide to Scanning Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin|Springer, 2018
ISBN 10: 3319984810 ISBN 13: 9783319984810
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2018
ISBN 10: 3319984810 ISBN 13: 9783319984810
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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Practical Engineering Failure Analysis
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Practical Engineering Failure Analysis
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Practical Engineering Failure Analysis
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Zustand: New. pp. 616 1st Edition.
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In den WarenkorbZustand: New. Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. AbbasFilling a gap in the literature, Practical Engineering Failure Analysis vividly demonstrates the correct methodology to conduct successful failure analyses, as well as offering the background nec.
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Practical Engineering Failure Analysis
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Practical Eng Failure Analysis
Buch 57 von 115: Mechanical EngineeringAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. pp. 616.
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A beginners' guide to scanning electron microscopy. [Corrected edition].
Anbieter: Antiquariaat A. Kok & Zn. B.V., Amsterdam, Niederlande
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
[CAm], Springer International Publishing, [2023]. XXII,402 pp. 122 b./w. ills & 98 ills in col. Orig. hardcover (boards). 8vo. [ISBN: 978-3-319-98481-0]. - As new !This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. - Corrected 2023 edition. First published in 2023.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. 424 pp. Englisch.
